Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Προσθήκη νέου όρου

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

AC σάρωση

Semiconductors; Test equipment

Μορφή σάρωση δοκιμής εφαρμογή, όπου μόνο το διάστημα δειγματοληψίας απαιτείται στην καθορισμένη συχνότητα λειτουργίας προκειμένου να εξακριβωθεί το χρονοδιάγραμμα απόδοσης, καθώς και διαρθρωτικά ...

Μορφή σάρωση όπου τόσο η μετατόπιση των δεδομένων και το δείγμα που συμβαίνουν στην ονομαστική συχνότητα λειτουργίας. Δομή και η χρονική στιγμή απόδοσης μπορεί τόσο να επαληθευτεί με αυτό το είδος ...

DC σάρωση

Semiconductors; Test equipment

Μορφή σάρωση όπου μετατόπιση και τη δειγματοληψία εμφανίζεται αρκετά κάτω από την κανονική συχνότητα λειτουργίας συσκευών. Αυτός ο τύπος σάρωσης είναι αποτελεσματική για ένα «καθαρό» δομική προσέγγιση ...

σάρωση

Semiconductors; Test equipment

DFT τεχνική όπου παραδοσιακά λειτουργική λογική είναι αναδιαρθρώνεται σε "αλυσίδες" για δοκιμή άμεση πρόσβαση με εσωτερική ...

σφάλμα κυριαρχία

Semiconductors; Test equipment

Δεσπόζουσα θέση είναι η κατάσταση στην οποία η απόκλιση στην έξοδο που προκαλείται από ένα σφάλμα είναι αμελητέα συγκρίνονται με την απόκλιση στην ίδια έξοδο, αλλά που προκαλείται από ένα διαφορετικό ...

διεξάγονται εκπομπών

Semiconductors; Test equipment

Ηλεκτρομαγνητική ενέργεια που μεταδίδεται κατά μήκος ενός αγωγού. Αυτή η ενέργεια ονομάζεται "πραγματοποιήθηκε παρέμβαση" αν είναι ανεπιθύμητα. ...

σχεδιασμό ηλεκτρονικού αυτοματισμού (EDA)

Semiconductors; Test equipment

ΕΟΑ αναφέρεται από τα εργαλεία σχεδιασμού και το περιβάλλον που χρησιμοποιείται για να καταστήσει τη λογική, σχηματικές αναπαραστάσεις, εισαγωγή σάρωση, εισαγωγή BIST, κ.α. για ένα νέο σχέδιο ...