Home > Βιομηχανία/Τομέας > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Προσθήκη νέου όρουContributors in Test equipment
Test equipment
AC σάρωση
Semiconductors; Test equipment
Μορφή σάρωση δοκιμής εφαρμογή, όπου μόνο το διάστημα δειγματοληψίας απαιτείται στην καθορισμένη συχνότητα λειτουργίας προκειμένου να εξακριβωθεί το χρονοδιάγραμμα απόδοσης, καθώς και διαρθρωτικά ...
σε ταχύτητα σάρωσης
Semiconductors; Test equipment
Μορφή σάρωση όπου τόσο η μετατόπιση των δεδομένων και το δείγμα που συμβαίνουν στην ονομαστική συχνότητα λειτουργίας. Δομή και η χρονική στιγμή απόδοσης μπορεί τόσο να επαληθευτεί με αυτό το είδος ...
DC σάρωση
Semiconductors; Test equipment
Μορφή σάρωση όπου μετατόπιση και τη δειγματοληψία εμφανίζεται αρκετά κάτω από την κανονική συχνότητα λειτουργίας συσκευών. Αυτός ο τύπος σάρωσης είναι αποτελεσματική για ένα «καθαρό» δομική προσέγγιση ...
σάρωση
Semiconductors; Test equipment
DFT τεχνική όπου παραδοσιακά λειτουργική λογική είναι αναδιαρθρώνεται σε "αλυσίδες" για δοκιμή άμεση πρόσβαση με εσωτερική ...
σφάλμα κυριαρχία
Semiconductors; Test equipment
Δεσπόζουσα θέση είναι η κατάσταση στην οποία η απόκλιση στην έξοδο που προκαλείται από ένα σφάλμα είναι αμελητέα συγκρίνονται με την απόκλιση στην ίδια έξοδο, αλλά που προκαλείται από ένα διαφορετικό ...
διεξάγονται εκπομπών
Semiconductors; Test equipment
Ηλεκτρομαγνητική ενέργεια που μεταδίδεται κατά μήκος ενός αγωγού. Αυτή η ενέργεια ονομάζεται "πραγματοποιήθηκε παρέμβαση" αν είναι ανεπιθύμητα. ...
σχεδιασμό ηλεκτρονικού αυτοματισμού (EDA)
Semiconductors; Test equipment
ΕΟΑ αναφέρεται από τα εργαλεία σχεδιασμού και το περιβάλλον που χρησιμοποιείται για να καταστήσει τη λογική, σχηματικές αναπαραστάσεις, εισαγωγή σάρωση, εισαγωγή BIST, κ.α. για ένα νέο σχέδιο ...