8 Όροι
Home > Βιομηχανία/Τομέας > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Προσθήκη νέου όρουContributors in Test equipment
Test equipment
εξαγωγή χαρακτηριστικών γνωρισμάτων
Semiconductors; Test equipment
Μια τεχνική που παράγει περιγραφείς ή χαρακτηριστικές ιδιότητες από μια δυαδική εικόνα.
ανίχνευση άκρης
Semiconductors; Test equipment
Μια τεχνική που εντοπίζει μια άκρη εξετάζοντας μια εικόνα για τις απότομες αλλαγές στις τιμές των pixel.
διαδοχικές προσέγγιση
Semiconductors; Test equipment
Μια τεχνική που χρησιμοποιείται σε ADCs ότι διαδοχικά συγκρίνει μια σειρά βαθμιαία μικρότερες δυαδικό σταθμισμένων τιμών με μια αναλογική εισροών για την παραγωγή μια λέξη ψηφιακή ...
Σχεδιασμός για την κατασκευή (DFM)
Semiconductors; Test equipment
Όρος που χρησιμοποιείται για τον καθορισμό των δραστηριοτήτων που έχουν γίνει κατά τη διάρκεια της διαδικασίας σχεδιασμού (από σχεδιαστές) για να εξασφαλιστεί ότι ο σχεδιασμός έχει βελτιστοποιηθεί ...
συσκευή υπό δοκιμή (DUT)
Semiconductors; Test equipment
Πρόκειται για τη συσκευή προορισμού που δοκιμάζεται. Λιγότερο συχνά αναφέρεται ως "CUT" (κύκλωμα υπό δοκιμή).
Τυλίξτε εισόδου/εξόδου
Semiconductors; Test equipment
DFT τεχνική παραγωγή όπου μια καρφίτσα είναι τυλιγμένο πίσω στο να είναι εισόδου (ή την είσοδο του pin του άλλου). Αυτό μπορεί να επιτρέψει κάποια δοκιμή των ακίδων που δεν σε επαφή απευθείας από το ...
Αν και πέρα από το πεδίο εφαρμογής της αυτό το γλωσσάριο.
Semiconductors; Test equipment
DFT τεχνική παραγωγή όπου μια καρφίτσα είναι τυλιγμένο πίσω στο να είναι εισόδου (ή την είσοδο του pin του άλλου). Αυτό μπορεί να επιτρέψει κάποια δοκιμή των ακίδων που δεν σε επαφή απευθείας από το ...
